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表征技术：飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）
飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）是一种结合二次离子质谱与飞行时间质量分析器的表面表征技术。 如今，TOF-SIMS已成为成熟且应用广泛的表征手段。现代TOF-SIMS具备高灵敏度、高空间分辨率、优异的质量分析能力及全面的化学信息解析功能，是一种多功能分析技术。 TOF-SIMS工作原理及离子源简介飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）系统主要由进样系统、真空系统、离子源、飞行时间分析器及数据处理系统构成（图1）。 TOF-SIMS 功能简介图 2显示了 TOF-SIMS 的功能介绍图，TOF-SIMS 的功能主要分为静态二次离子质谱（Static-SIMS）和动态二次离子质谱（Dynamic-SIMS）两种。 TOF-SIMS 跨学科应用与技术挑战自20世纪80年代问世以来，TOF-SIMS（静态SIMS模式为主）始终兼具元素/同位素检测（含痕量氢）与分子结构解析双重优势。
57010编辑于 2025-10-24 - 来自专栏测试GO材料测试
三维组分分布测绘：三大技术解构水系电池界面传输机制
测试GO前沿实验室依托TOF-SIMS深度成分分析、扫描电化学显微镜原位测绘及动态浓度分布表征三大技术，为科研人员提供水系电池界面行为的精准量化解决方案。 化学组成三维透视：TOF-SIMS深度测绘测试狗实验室采用飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）技术，实现电极材料表面及体相组分的纳米级精确定位：表面分布成像：精准捕捉电极表面SEI膜中关键成分（如SO₃²
27510编辑于 2025-08-22 - 来自专栏模拟计算
测试GO前沿实验室：为水系电池研究提供多维度表征解决方案
三、应用场景与案例参考锌负极优化通过晶体取向调控（如单晶[0001]锌箔）减少枝晶生成，结合TOF-SIMS分析SEI成分，提升循环寿命（Advanced Materials, 2025）。 四、客户价值与科研赋能数据可靠性：严格遵循ISO/IEC标准，提供可重复的表征结果（如TOF-SIMS成分分布图、原位EIS阻抗谱）。
18910编辑于 2025-08-11 西安工业大学Energy Storage Materials：闪蒸焦耳加热1秒合成SiC！硅基负极"三效合一"突破瓶颈
TOF-SIMS（图6g）进一步确认SEI内层以LiF为主，外层含有机组分，形成稳定的有机‑无机杂化SEI结构。
12610编辑于 2026-02-07北京石墨烯研究院&北京大学&清华大学Nature子刊：脉冲焦耳热诱导渗碳策略实现微米厚高结晶度石墨薄膜的秒级合成
图2 | 飞行时间二次离子质谱揭示碳的快速扩散与偏析动力学图2利用飞行时间二次离子质谱（ToF-SIMS）对碳在镍中的时空分布进行了三维追踪。a，b，原始镍箔中几乎探测不到碳信号。
11110编辑于 2026-02-28Adv. Mater.：毫秒级闪蒸焦耳加热合成单晶HfO₂，构筑高离子导、高热稳固态电解质
深度分辨XPS与ToF-SIMS分析揭示，其形成的固态电解质界面（SEI）具有“外有机-内无机”的梯度结构，富含LiF等组分，机械强度高且离子导通性好。
11910编辑于 2026-02-07
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