首页
学习
活动
专区
圈层
工具
发布
    • 综合排序
    • 最热优先
    • 最新优先
    时间不限
  • 内存芯片测试:DDR4-LPDDR44X-LPDDR55X芯片测试夹具治具

    芯片出厂前的测试环节直接决定产品可靠性,而测试座、治具的适配性是保障测试精度与效率的核心。 测试座与测试治具适配方案(谷易电子案例)测试座与治具的结构设计、材质选择直接影响测试精度与效率,谷易电子针对三种芯片的特性,提供了差异化的定制方案,兼顾量产效率与测试可靠性。1. DDR4芯片测试座与治具针对DDR4量产需求,谷易电子采用翻盖式测试座,配合全镀硬金铍铜探针,接触电阻<10mΩ,支持BGA封装的精准接触,插拔寿命可达30万次以上。 测试治具采用模块化设计,支持有球/无球芯片测试,集成低功耗供电模块,可精准模拟移动设备的电压波动(±10%)。 LPDDR5/5X芯片测试座与治具应对LPDDR5/5X的高频、宽温域需求,谷易电子推出高精度旋钮翻盖式测试座与车规级双扣式测试座两大方案。

    2.2K10编辑于 2026-01-21
  • 来自专栏集成电路IC测试座案例合计

    DDR存储芯片的种类、封装测试与芯片老化座、测试夹具治具应用

    SSN(同时切换噪声)测试:模拟多信号同时翻转,验证电源/地网络抗干扰能力,鸿怡芯片测试座通过差分探针设计将串扰抑制至-30dB以下。 3. DDR芯片老化座与夹具治具多场景适配:GDDR测试治具支持10GHz高频颗粒,可同时测试4颗芯片,冷却系统确保稳定性;DDR芯片测试夹具(如HMILU-DDR96pin)采用合金翻盖设计,支持0.8mm 全流程测试支持从设计到量产:芯片测试座覆盖晶圆级测试(飞针扫描)、封装后测试(功能/性能验证)及老化测试筛选,支持JEDEC JESD79-5C(DDR5)等标准。 定制化服务:根据客户主板布局设计治具,如针对DDR5的288针接口优化探针排列,确保信号传输延迟<0.5ps。 鸿怡DDR存储芯片测试解决方案通过高精度、宽温域、智能化设计,为国产DDR芯片的研发和量产提供了关键支撑。

    2.9K10编辑于 2025-07-30
  • 来自专栏集成电路IC测试座案例合计

    鸿怡IC芯片测试老化耗材工程师:了解芯片测试座、测试夹具、测试治具

    一、概念辨析:芯片测试座、夹具、治具的定位与差异在芯片测试体系中,测试座、夹具、治具是 “核心接触 - 定位固定 - 功能实现” 的三级支撑体系,三者功能互补但定位不同,共同保障测试的精度、效率与可靠性 鸿怡电子典型应用工业芯片温老化治具:鸿怡为工业功率芯片(IGBT)设计的 “175℃高温老化治具”,集成测试座、加热模块、温度控制系统,可同时老化 32 颗芯片,老化过程中实时监测芯片漏电流,筛选出早期失效品 ,芯片长期可靠性提升 20%;医疗芯片高压耐压治具:针对医疗设备中的电源管理芯片,鸿怡定制高压隔离治具(隔离电压 1000V),集成过压保护功能,在 500V 耐压测试中,测试座接触阻抗稳定<5mΩ,确保耐压测试精度 三、三者协同应用:不同领域的测试体系搭建芯片测试的精准与高效,依赖测试座、夹具、治具的深度协同。 芯片测试座、夹具、治具是芯片测试体系中不可或缺的三大核心器件,其中测试座是 “接触核心”,夹具是 “定位基础”,治具是 “功能延伸”。三者的协同配合,直接决定芯片测试的精度、效率与可靠性。

    1.1K11编辑于 2025-11-05
  • 来自专栏机械之心

    如何制作PCBA测试架与治具?

    PCBA测试架也叫做测试治具,专门用于对产品的功能、功率校准、寿命、性能等进行测试、试验等。在制作PCBA测试架时,PCBA工厂需要向测试架制作方提供相应的制作资料才能制作出合格的测试架。 a、ICT测试治具:主要包含电路板的通断、电压和电流数值及波动曲线、振幅、噪音等;b、FCT测试治具:FCT测试需要进行IC程序烧录,对整个PCBA板的功能进行模拟测试,发现硬件和软件中存在的问题,并配备必要的生产治具和测试架 根据测试产品及客户的测试要求选择最合适的治具控制方式进行设计,设计出压板、载板等模块;b. 治具的压板或者载板在设计时位置一定要精确,不能让产品在测试时被压坏;c. 测试治具的定位要准确,连接器对接要顺畅;d. 测试治具都会设计一个盒子,把测试产品置于盒子内,在治具设计时一定要保持盒子的充足空间,盒内的布局一定要合理;e. 测试治具预留的接口位置应准确、足够且布局合理。4. PCBA测试治具接线要求a. 开线口需要开出2mm内,先将电线的开线口加锡及测试锡线位加锡;b. 焊好的电线不能有摆动及松动现象;c.

    2.5K20编辑于 2023-04-24
  • 来自专栏集成电路IC测试座案例合计

    液冷赋能下AI芯片模块老化测试的技术突破与适配测试治具实践

    三、鸿怡电子水冷测试治具:精准适配AI芯片老化测试的技术实践针对AI芯片/模块老化测试的核心需求,鸿怡电子研发的AI芯片/模块水冷测试治具,通过针对性的结构设计和功能集成,实现了对BGA4000+pin 通过在治具测试接口处设置多组定位销和识别标记,与芯片封装上的基准点精准匹配,实现芯片的快速定位和防呆防错。 (二)ESD设计:保障测试过程芯片安全AI芯片的精密电路对静电极为敏感,ESD(静电放电)防护是测试治具的核心安全设计。 同时,治具预留标准化自动化接口,可无缝对接自动化测试系统,实现芯片上料、定位、测试、下料的全流程自动化。 在AI芯片功率密度持续攀升、封装集成度不断提高的背景下,液冷技术与高精度测试治具的结合,已成为破解老化测试难题的核心路径。

    52410编辑于 2026-01-07
  • 来自专栏CSharp编程

    一款ICTFCTATE治具夹具的测试软件

    ——让您的产品测试更高效、更智能在电子制造行业,测试环节决定了品质与效率。 无论是 ICT 在线测试(In-Circuit Test)、FCT 功能测试(Function Test),还是 ATE 自动化测试(Automatic Test Equipment),传统的治具+软件方案往往存在以下痛点 : 定制性差:不同产品需要重复开发,周期长、成本高 扩展性弱:协议繁多、接口复杂,缺乏统一的测试平台 效率低下:人工干预过多,数据难以追溯和分析 我们推出的 通用测试上位机 + 专业治具解决方案,正是为了解决这些行业痛点而生 高效治具设计 提供 ICT 探针治具、FCT 功能治具、ATE 自动化测试工装 支持 烧录、通讯、电源、信号、模拟/数字 IO 测试 自动化接口,减少人工操作 3. ✅ 一套平台,覆盖多类测试需求 ✅ 软件+治具一体化交付,缩短项目周期 ✅ 可根据客户需求定制,真正做到快速适配 ✅ 售后支持到位,助力产线稳定运行

    1.3K00编辑于 2025-08-31
  • PCBA测试治具分类、结构设计、工艺流程和上位机开发

    一、PCBA测试治具的原理PCBA测试治具的核心作用是对电路板实现快速、可靠、可重复的电气连接,配合测试设备或上位机软件对其进行功能性测试、ICT测试、FCT测试等。 工作流程: 治具通过弹簧针(Pogo Pin)接触 PCBA 指定测试点(测试Pad或接口)。 治具对DUT(Device Under Test)提供电源、电信号、通信协议等输入。 二、PCBA测试治具的分类类型简介应用ICT(In-Circuit Test)治具使用探针对PCB各测试点通断、电压、电流进行测试,检测元器件安装和电气连接正确性。批量生产阶段,适用于标准电路板。 多功能复合治具集成ICT + FCT + 烧录等功能,减少更换治具的时间。自动化产线,大批量生产场景。三、PCBA测试治具的设计要点1. 保护电路:增加TVS、光耦、隔离芯片保护上位机。 接口标准化:如USB、UART、CAN、SPI、I2C等常用通信接口应布局清晰。 3.

    2.7K10编辑于 2025-07-29
  • 来自专栏集成电路IC测试座案例合计

    大阵列排布1000~15000+Pin芯片测试:芯片测试座结构设计及场景化应用

    常规通用测试治具已无法适配其严苛测试需求,定制化、高精度、高稳定性的专用测试座成为大阵列芯片研发验证、量产分选的核心载体。 ,常规测试治具无法满足高密度适配需求。 相较于普通芯片低速信号测试,大阵列芯片高速测试需全程管控信号完整性,杜绝测试治具引入的二次信号损耗,保障测试数据与芯片真实工作状态一致。3. 五、工程应用案例:鸿怡电子大阵列芯片测试座落地方案鸿怡电子深耕高端大阵列芯片测试治具领域,针对AI算力芯片、服务器CPU、超高Pin阵列芯片的测试痛点,研发出适配研发调试与量产测试的全系列大阵列测试座方案 ,有效解决了超高Pin密度、超高速、大电流高功耗芯片的测试难题,为高端算力芯片的可靠性验证、量产品质管控提供核心治具支撑。

    47610编辑于 2026-06-01
  • 来自专栏集成电路IC测试座案例合计

    全面解析DDR5内存颗粒的技术革新:DDR5内存测试治具的特点

    在使用DDR5内存测试治具对DDR5-10600、DDR5-9000 CL38和DDR5-7800 CL36 CAMM2超频内存进行测试时,需要符合以下测试要求,并了解该测试治具有哪些优势: 测试要求 可靠性测试: 长时间运行测试(Burn-in Test),验证长时间负载下的稳定性。 使用压力测试软件(如MemTest86+、Prime95等)进行内存压力测试,检测潜在的错误。 ANDK DDR5内存测试治具的优势 高精度测试: ANDK治具有高精度的测试探针,可以捕捉到微小的电气信号变化,确保测试结果的准确性。 先进的测试算法和自动化测试流程,减少人为误差。 快速检测能力: 支持批量测试和快速切换内存模块,显著提高测试效率。 自动化测试流程和脚本支持,降低人工操作复杂度。 根据鸿怡电子IC测试座工程师介绍:使用ANDK的DDR5内存测试治具进行DDR5超频内存测试,不仅能够确保测试的全面性和精确性,还能通过高效的自动化流程和强大的数据分析功能,为工程师提供可靠的测试结果和优化建议

    3.4K00编辑于 2024-12-23
  • 来自专栏集成电路IC测试座案例合计

    英伟达H100算力卡核心测试治具:架构解析与高精度验证实践

    英伟达H100算力卡核心测试治具:架构解析与高精度验证实践 英伟达H100 GPU作为当前AI算力领域的标杆产品,凭借其Hopper架构与HBM3高带宽显存,在超大规模模型训练、推理加速及科学计算等场景中展现了革命性性能 本文将围绕H100的核心架构、测试技术难点及国产测试解决方案(如鸿怡电子测试治具)展开深度解析,探讨其在严苛环境下的验证逻辑与产业化应用价值。一、H100算力卡核心架构与工作原理 1. 四、H100算力卡测试治具的关键应用 以鸿怡电子为代表的显卡测试治具解决方案,在H100算力卡核心验证中凸显以下技术优势:  1. 技术演进方向  HBM3e适配:下一代H200显存带宽提升至4.8TB/s,测试治具需支持更高频率信号采集。  三维堆叠测试:针对3D IC封装,开发垂直探针阵列,攻克TSV互连缺陷检测难题。   英伟达H100通过架构创新与高精度测试验证,奠定了其在AI算力领域的统治地位。国产测试治具厂商如鸿怡电子,凭借宽温域兼容性与智能化测试集成,正逐步突破高端GPU验证的技术壁垒。

    2.5K00编辑于 2025-03-25
  • 来自专栏点云PCL

    MEMS IMU 校准算法

    有些IMU数据手册中会给出零偏温度滞回特性曲线,有些不会给出,在应用IMU时最好进行一下测试。 有些MEMS IMU芯片在高频激振下,频率特性会出现异常,对于旋翼无人机等容易出现高频振动的应用场所,一般要做下振动特性的测试,如果IMU出现异常频率特性,可以考虑加减震装置。 应力主要来源于:PCB板对IMU芯片施加的应力,温控装置对IMU芯片施加的应力。如果IMU bias受应力影响太敏感,也会影响零飘估计误差,从而影响融合效果。 5 基于优化的配准方法 在IMU收到外部冲击时(几十个G的量级),会有概率性的造成IMU卡死,或者bias改变,一般也要测试下。 十二面体校准步骤: 1.将IMU固定在三轴正交的立方体(治具)上; 2.将治具一面放置在校准面上,静置,采集一段时间数据; 3.将治具原地旋转180度,静置,采集一段时间数据; 4.将两次采集到的数据求平均

    4.7K30发布于 2021-04-13
  • 来自专栏集成电路IC测试座案例合计

    DRAM、SRAM、NAND、DIMM、LOGIC-DDR存储芯片测试座解决方案

    DDR芯片测试座技术优势:高频支持:BGA78球测试座支持2800MHz以上频率,接触电阻<100mΩ。 DDR芯片老化座宽温域测试: 温度范围:-65℃~200℃,支持车规级芯片高温反向偏压(HTRB)测试。多工位并行:64工位老化板实现单日10万颗芯片测试,成本降低30%。 DDR芯片测试治具自动化集成:ATE对接:支持与泰瑞达、爱德万测试机通信,实现全流程自动化。 - 探针寿命:钨铜合金探针插拔寿命>50万次,满足量产需求。 鸿怡存储芯片测试座、老化座及治具通过高精度信号完整性设计、宽温域可靠性验证和医疗合规性支持,覆盖DDR存储芯片从设计验证到量产的全流程测试需求。 随着DDR5普及和AI芯片需求增长,测试解决方案的创新将成为产业竞争力的关键。

    1.7K10编辑于 2025-07-14
  • 角逐端侧AI的万亿元大市场,新基讯用5G移动智能体撬动了什么?

    在张治看来,考虑到功耗与成本,端侧AI芯片市场亦会进一步细分,对成本和续航更加敏感的移动智能体市场与固定供电的个人/家庭智能体市场会被不同的芯片产品覆盖,前者使用的模型参数更少,比如2B到4B,如果遇到较为复杂的任务 加强具身智能与信息通信融合创新,推动具身智能与网联通信模组和设备适配验证。大力发展人工智能手机和电脑、智慧家庭设备、智能穿戴设备等产品,培育智能化、融合化人工智能终端产品体系。 张治直言,这种方案做出来的东西几乎没有可扩展性,MCU+WiFi无论移动性还是处理能力都远远不能满足AI时代的需求。 张治认为,只有蜂窝网络,才能做到随时随地获取情境信息并实时交互。 而蜂窝网络,则需要基带芯片。 不过,5G基带芯片的门槛极高。全球能做5G基带的公司一共不超过10家,包括高通、联发科、苹果等,新基讯也是其中之一。 张治说。 推理时代的大门已经打开。端侧AI的万亿市场不是会不会来的问题,而是谁能在窗口期内拿到入场券的问题。新基讯正在用5G基带芯片等建立的硬件壁垒,叠加5G移动智能体,去做端侧AI的底座。

    37210编辑于 2026-06-23
  • 全场景落地+生态扩容,沐曦秀出国产GPU平台竞争力

    沐曦正向业界传递了一个清晰信号:国产GPU已从单点突破走向了系统级能力构建。沐曦股份不只是“一家国产GPU芯片公司”,而是一个能够提供完整AI算力基础设施的“平台级”玩家。 针对具身智能、空天算力等前沿场景,沐曦股份已经进行前瞻布局。 合资公司专门攻坚具身智能端侧SoC芯片,不再依赖通用芯片“硬改”,而是从真实工况需求出发,反向定义更适合具身场景的专用算力芯片。 根据产品路线图,首款芯片计划于2027年下半年流片、2028年量产,届时将填补国内具身智能高端芯片领域的技术空白。 目前,沐曦MXMACA软件栈支持500多款AI模型、4000多个开源项目的兼容测试。

    48510编辑于 2026-07-21
  • 世界人工智能大会的三年换挡:治理、落地、与2026的 Agent 前夜

    2024:技术大阅兵,百模大战开始"找场景"2024年的WAIC是第七届,主题"以共商促共享以善治促善智",同期首次叠了一场人工智能全球治理高级别会议,闭幕发布了《人工智能全球治理上海宣言》。 聪明蛋"是预览展具,它代表的能力随后落到了2025年9月上市的量产车银河M9上(超拟人车载智能体"Eva")。2025的气质:Agent接棒大模型,具身找量产,穿戴冒头,国产算力真机落地。 基本把今年的叙事轴画了一半:华为Atlas950超节点真机(号称业界最大规模,最多可连8192张昇腾NPU,是去年那台昇腾384超节点的下一代);MiniMaxM3多模态大模型;阶跃Agent操作系统全球首秀;近存计算3D芯片 2026WAIC新闻发布会后两样值得多说一句,"近存计算3D芯片"官方只点到品类、没念公司名,据大会SAIL奖榜单和产业链报道,指向的是清华系团队东方算芯的全国产3D堆叠近存路线;"全球首款AI智能体手机 最后WAIC办了八年,主题从"善治"到"同球共济"再到今年的"智能伙伴",换的其实是国产AI给自己找的位置:2024还在证明"我们也有大模型",2025已经在卷Agent和具身量产,2026要把操作系统和智能体手机摆上台

    98100编辑于 2026-07-08
  • 年营收暴涨超230%,摩尔线程商业化提速!

    技术层面,摩尔线程五年内成功量产五颗芯片,完成四代GPU架构迭代,实现从芯片、计算卡到智算集群的多元布局,形成了覆盖人工智能、科学计算与图形渲染等完整的计算加速产品矩阵,全面支持“云-边-端”全场景。 其全功能GPU单芯片同时集成AI计算加速、图形渲染、科学计算和物理仿真,以及超高清视频编解码四大引擎,是国内唯一功能可对标英伟达的全国产GPU。 这一生态成效已在关键合作中得到验证: 2025年12月,摩尔线程联合硅基流动,基于MTT S5000完成了对DeepSeek-V3 671B满血版的深度适配与性能测试,实测单卡Prefill吞吐超4000 S5000千卡智算集群,摩尔线程联合智源研究院成功完成具身大脑模型RoboBrain 2.5的全流程训练。 这是行业内首次验证国产算力集群在具身智能大模型训练中的可用性与高效性,标志着国产AI基础设施在应对复杂多模态任务上迈出了关键一步。

    55010编辑于 2026-03-19
  • ATE(Automatic Test Equipment)测试座-新啟电子

    ATE(Automatic Test Equipment)测试座是用于芯片快速验证和测试的重要工具,特别适用于各种封装类型如BGA、QFN、DFN、LGA、QFP、SOP等。 四、应用领域 ATE测试座广泛应用于以下领域:   半导体制造:   用于芯片生产过程中的功能测试和性能验证。   研发实验室:   在新产品开发和实验过程中进行快速验证和调试。    质量控制:   在质量控制环节对批量生产的芯片进行抽样测试,确保产品质量。   自动化测试系统:   集成在自动化测试设备中,实现高效的批量测试。 结语 ATE测试座在芯片测试和验证过程中发挥着至关重要的作用,通过其优秀的设计、机械性能和电性能,为半导体制造、研发实验室、质量控制和自动化测试系统提供了高效、可靠的测试解决方案。 专业研发、生产各类:ATE Socket 测试座、IC测试座、老化座(Burn-in & Test Socket)、开尔文测试座、IC验证测试治具、测试设备客制化Socket,适用于:BGA.QNF.DFN.QFP.SOP.LGA

    62110编辑于 2025-08-04
  • 来自专栏深度学习与python

    龙蜥五年:开源破局、生态共融,AI重塑操作系统新范式

    “龙蜥社区的开源开放、共治共享理念,让我们获得了国内芯片厂商的全面支持。” 在 System for AI 层面,龙蜥操作系统通过优化内核架构,充分释放硬件潜力,支持 X86、ARM、RISC-V 等多种芯片架构,实现了“一元多芯”的技术突破,能够有效管理 GPU、NPU、DPU 浪潮信息系统软件产品部总经理苏志远介绍,通过智算联盟,联合众多 GPU 厂商,制定了兼容性测试基准,在 6.6 内核中增加了超 800 个相关硬件的 KABI,降低了 GPU 厂商的适配工作量,提升了整个智算生态的协同效率 例如,中兴通讯将智能驾驶领域的中间件与内核优化技术复用到具身智能场景,预计 2026 年年中将在龙蜥社区发布基于龙蜥的机器人操作系统解决方案。 海光信息副总裁李亚东介绍,海光的 CPU 和 DCU(GPU)产品已与龙蜥操作系统完成深度兼容,目前海光 CPU 及 DCU 产品累计销量达几百万片,已与 8000 多家应用厂商完成适配验证,支付宝、微信支付等金融领域常用应用均运行在海光芯片与龙蜥操作系统的组合方案上

    99710编辑于 2025-11-26
  • 来自专栏集成电路IC测试座案例合计

    半导体芯片从设计到量产过程中,芯片测试座如何评估与测试?

    为什么半导体芯片从设计到量产过程中,工程师都需要用到芯片测试座的评估与测试? 原型功能验证在芯片设计初期,工程师通过测试座连接原型芯片与测试设备,验证其逻辑功能是否符合设计预期。 例如,使用Socket Phone等治具快速完成芯片的开机测试和固件烧录,避免反复焊接对芯片造成损伤。 二、晶圆测试阶段:早期缺陷筛选与良率提升1. 晶圆级并行测试晶圆测试座通过探针卡与晶圆上的裸芯片(Die)接触,一次可对多个芯片进行并行测试。 鸿怡电子芯片测试座作为连接芯片与测试设备的桥梁,贯穿设计验证、晶圆测试、封装测试到量产的全流程。

    79200编辑于 2025-07-07
  • 亨利笔记:一周AI要闻(2026.06.28)

    OpenAI发布GPT-5.6 Sol/Terra/Luna有限预览 OpenAI启动GPT-5.6系列有限预览,包含旗舰Sol、平衡型Terra和低成本Luna;因安全要求采取分阶段开放,先面向可信伙伴测试编码 2.OpenAI与Broadcom推出LLM推理芯片Jalapeño OpenAI和Broadcom联合发布首款面向大语言模型推理优化的Jalapeño芯片,围绕内存移动、网络和服务模式设计,标志模型公司继续向底层算力定制下沉 4.Qualcomm宣布收购AI软件公司Modular Qualcomm同意收购Modular,补强跨CPU、GPU、NPU和定制芯片运行AI模型的软件平台,意在完善端侧、边缘与数据中心AI计算软件栈。 10.中国具身智能公司无界动力完成超2亿美元天使轮融资 通用具身智能机器人公司无界动力完成超2亿美元天使轮融资,资金将用于具身通用大脑研发、技术基础设施建设和全球规模化交付。 本周综述: 本周AI竞争从模型能力延伸到部署体系:OpenAI同时推进新模型与推理芯片,企业智能体进入协作和文档流程,国内则在智能体标准、豆包模型、具身智能融资和国产超算上集中升温。

    46610编辑于 2026-06-29
领券