有奖直播 | 借助PXI与NI LabVIEW+ 套件加速电子产品自动化测试

文章来源：企鹅号 - 电子工程世界

在电子产品测试日益复杂、节奏不断加快的背景下，传统测试方式已难以满足效率与质量要求。

本次直播将聚焦 NI PXI 平台与软件工具链，系统解析如何从交互式测量快速演进到自动化、并行测试，通过真实案例与演示，展示如何显著缩短测试时间、提升测试效率，加速产品验证与量产落地。更有性能不负众望，价格超乎想象的PXI新产品，包含全新机箱、控制器、示波器、数据采集卡等。