以 AI 重构测试效率 | NI 芯片测试技术研讨会・西安诚邀莅临（3.18）

PART1

研讨会基本信息

NI测试测量技术研讨会再次起航，以AI+测试为主题，走遍全国多个城市，与全国各地朋友相聚，共同探讨AI+测试的落地，共赢智能测试的未来。

活动时间

2026年3月18日（星期三）

13:30-17:00（12:30开始签到）

活动地点

西安高新区喜来登酒店 三楼大宴会厅A

（地址：陕西省西安市高新区天谷七路99号）

西安高新区喜来登酒店

码上报名

NI测试测量技术研讨会西安站

PART2

为什么参会？

分享最新AI+测试进展，深入探讨如何实现技术落地

技术专家面对面分享：最新测试技术成果，提高测试精度技巧，并为您解读各种疑难问题

多款全新软硬件产品发布，AI助手Nigel，全新PXI控制器/机箱/模块，全新DAQ产品，全新USRP产品

PART3

谁适合参加？

测试测量工程师、研发工程师

工程团队负责人，技术总监

院校及研究所研究人员

LabVIEW爱好者，开发者

PART4

日程安排

PART5

实机展示

NI NigelAI助手体验

通过配置快速完成PXI自动化测试任务（InstrumentStudio软件展示）

快速完成传感器配置与数据记录（FlexLogger软件展示）

码上报名

NI测试测量技术研讨会西安站