- 综合排序
- 最热优先
- 最新优先
- 来自专栏集成电路IC测试座案例合计
电源管理芯片测试：BGA2577144芯片封装与测试-电源芯片测试座
一、DC/DC 电源芯片工作原理DC/DC 电源芯片是实现直流电压转换的核心器件，主流为开关型结构，通过 "斩波 - 变压 - 整流 - 滤波" 四步实现电压调节：斩波阶段：内置 MOS 管在 PWM（ 二、DC/DC 电源芯片 BGA 封装测试技术（一）典型 BGA 封装特性对比BGA（球栅阵列）封装因高引脚密度、低寄生参数优势成为中高端 DC/DC 芯片首选，不同型号适配场景差异显著：封装型号球数范围间距规格核心特点典型应用 三、DC/DC 电源芯片测试项、方法与标准（一）核心测试项目电性能测试输入输出特性：输入电压范围（轻载 / 满载无骤降）、输出电压精度（含 20% 余量）、最大输出电流（留 10%-30% 裕量）；动态特性 板级跌落）封装工艺验证行业特定AEC-Q100（车规，150℃/1000 小时）、MIL-STD-883（军规，-55℃~175℃）高可靠性场景四、鸿怡电子电源芯片测试座的关键作用作为测试环节的核心载体 鸿怡电子推出的第三代电源芯片测试座，集成温度传感器与阻抗补偿功能，可实时修正测试偏差，为下一代 DC/DC 芯片量产测试提供关键支撑。
57910编辑于 2025-10-13 - 来自专栏集成电路IC测试座案例合计
为电源芯片模块测试服务:电源模块LGA72pin封装老化测试座socket案例
老化测试作为电源模块出厂前的关键可靠性验证环节，通过模拟极端工作环境与长期运行工况，提前暴露器件潜在缺陷，是保障产品质量的核心手段。 此外，在航空航天、测试仪器、物联网终端等领域，LGA72pin电源模块也凭借其独特优势，为各类精密设备提供稳定供电。 三、鸿怡电子LGA72pin电源模块老化测试座socket案例应用老化测试座socket是LGA72pin电源模块老化测试的核心辅助器件，其接触可靠性、散热性能、适配性直接影响测试结果的准确性与测试效率 鸿怡电子作为专业的电源模块测试座解决方案提供商，其研发的LGA72pin电源模块老化测试座socket，针对LGA72pin封装的结构特点与老化测试需求，进行了专项优化设计，在实际测试中表现优异，具体应用案例如下 电源模块测试座采用耐高温、耐腐蚀的工程塑料材质，可耐受-55℃~150℃的极端温度，适配高低温交替老化测试的环境要求，避免温度变化导致测试座变形、接触失效。
15610编辑于 2026-02-26 - 来自专栏【C】系列
【电源芯片】ZTP7193
应用程序 分布式电力系统网络 系统FPGA, DSP, ASIC 电源笔记本电脑环保电子或器具 引脚配置 TSOT 23-6LSymbolDescription1GND接地2SW电源开关输出 3IN电源输入4FB反馈信息输入5EN使能输入6BOOT高侧栅极驱动升压输入 典型应用电路输入 说明：5V稳压电路是一种将输入电压转换为稳定的5V输出电压的电路。
67510编辑于 2023-11-29 - 来自专栏嵌入式随笔
电源芯片的温升计算
电源芯片的datasheet中有关温度的参数可以见如下所示 θja是内部的结到空气的温度参数。 有两种方法计算芯片结温：一种是室温+温升，一种是壳温+温升。 举例说明两种方法，现在电源芯片的输入功率为P1,输出功率为P2，则热损耗功率P3=P2-P1。 使用壳温+温升计算结温：P3×θjctop+芯片上方表面温度则为结温，使用θjctop而不使用θjcbot是因为下方温度不好测量。
2.1K31编辑于 2022-05-11 - 来自专栏机械之心
电源工程师必看，开关电源芯片内部电路解析！
作为一名电源研发工程师，自然经常与各种芯片打交道，可能有的工程师对芯片的内部并不是很了解，不少同学在应用新的芯片时直接翻到Datasheet的应用页面，按照推荐设计搭建外围完事。 今天以一颗DC/DC降压电源芯片LM2675为例，尽量详细讲解下一颗芯片的内部设计原理和结构，IC行业的同学随便看看就好，欢迎指教！ LM2675-5.0的典型应用电路打开LM2675的DataSheet，首先看看框图这个图包含了电源芯片的内部全部单元模块，BUCK结构我们已经很理解了，这个芯片的主要功能是实现对MOS管的驱动，并通过 这是一个非同步模式电源，即续流器件为外部二极管，而不是内部MOS管。下面咱们一起来分析各个功能是怎么实现的一、基准电压类似于板级电路设计的基准电源，芯片内部基准电压为芯片其他电路提供稳定的参考电压。 七、小结以上大概就是一颗DC/DC电源芯片LM2675的内部全部结构，也算是把以前的皮毛知识复习了一下。
1.5K30编辑于 2023-04-24 - 来自专栏集成电路IC测试座案例合计
芯片测试类型：芯片电性测试和芯片电气测试-芯片测试座的选型
一、概念界定：电性测试与电气测试的核心差异芯片电性测试聚焦核心电学性能参数的精准验证，侧重芯片在设计规格内的性能表现；电气测试则侧重安全与兼容性验证，关注芯片在极端环境与复杂电路中的稳定运行能力。 两者均需通过芯片测试座建立芯片与测试设备的可靠连接，其技术特性直接决定测试精度。 动态响应要求高：高频芯片测试需保障信号传输延迟＜1ns，避免波形畸变。批次一致性强：同一批次芯片参数波动需控制在 ±3% 以内。测试要求接触阻抗≤50mΩ：避免测试回路附加电阻干扰参数测量。 测试方法直流参数测试：通过半导体特性分析仪测量电源电流、漏电流，测试座采用铍铜弹片确保低阻抗连接。 （三）存储芯片综合测试场景EMMC56pin芯片测试座实现 6Ghz UFS 高速测试，接触阻抗≤100mΩ，在 HS400 模式下保障信号完整性，适配消费电子存储芯片的电性与电气联合测试。
40510编辑于 2025-10-20 - 来自专栏全栈程序员必看
锂电池充电器电源芯片_4056充电芯片
1号模块板用到芯片： PW2606B过压OVP保护芯片， PW4054锂电池充电芯片，0.5A PW5100-50电池升压5V输出芯片， PW3133A单节锂电池过充过放保护芯片 3号模块板：单节锂电池 41号模块板使用芯片： PW2312，可达30V输入的降压芯片，1.2A PW4056H单节锂电池1A充电芯片，1A 43号模块板：单节锂电池1A充电，USB输出口5V1A，带手机充电识别，带保护板 ，过流3A，带OVP过压保护 43号模块板使用芯片： PW4056H单节1A锂电池充电芯片，带OVP PS7516单节锂电池升压5V芯片，1A DW01B锂电池过充过放保护芯片 PW515手机充电识别芯片 2号模块板用到芯片： PW2606过压OVP保护芯片， PW4052锂电池2.5A充电芯片， DW01B+PW8205A8TS单节锂电池过充过放检测保护芯片和搭配的MOS管 42号模块板：单节锂电池 输入降压型， 电池端充电电流2A， 带两节锂电池过充过放保护电路,过流6A 带输出口，2节锂电池7.4V降压输出5V2A 5号模块板用到芯片： PW4203降压型两节锂电池充电芯片， PW2162降压芯片
1.6K11编辑于 2022-11-09 - 来自专栏全栈程序员必看
锂电池稳压3.3V芯片_电源芯片型号
干电池升压3.3V的电源芯片 PW5100适用于一节干电池升压到3.3V，两节干电池升压3.3V的升压电路，PW5100干电池升压IC。 干电池1.5V和两节干电池3V升压到3.3V的测试数据 输入电压 输入电流 输出电压 输出电流 0.9V输入测试 0.907V 0.21A 3.26V 50MA 0.887V 0.45A 3.21V 100MA 0.857V 0.83A 3.12V 150MA 输入电压 输入电流 输出电压 输出电流 1V输入测试 1V 0.96A 3.09V 200MA 1.03V 0.5A 3.21V 130MA 1.05V 0.25A 3.26V 70MA 输入电压 输入电流 输出电压 输出电流 1.2V输入测试 1.16V 1A 3.05V 250MA 1.19V 0.56A 3.20V 170MA 输入电压 输入电流 输出电压 输出电流 1.5V输入测试 1.5V 1.28A 3.04V 400MA 1.5V 0.65A 3.21V 250MA 1.5V 0.37A 3.25V 150MA
86910编辑于 2022-11-08 - 来自专栏集成电路IC测试座案例合计
一款高效稳定的电源芯片测试解决方案：LTM4624电压转换器芯片解析
根据鸿怡电子电源芯片测试座工程师介绍：无论在通讯设备、工控设备、智能家居还是医疗设备领域，LTM4624电压转换器芯片都能够提供稳定可靠的电源支持，确保设备的正常运行和长久稳定的性能。 此外，它还具有很高的电源噪声抑制能力，能够减少电路中的噪声干扰，提供清晰可靠的电源信号。2、LTM4624电压转换器芯片具有广泛的应用场景。 根据鸿怡电子电源芯片测试座工程师介绍：通过电气性能测试、温度测试、EMC测试和可靠性测试，我们可以全面评估LTM4624芯片的性能和可靠性，并优化其设计和制造过程。1、我们需要进行电气性能测试。 LTM4624芯片：BGA25封装，属于电源芯片：电压转换器芯片LTM4624电压转换器芯片测试座socket选配根据鸿怡电子电源芯片测试座工程师介绍：在选配LTM4624电压转换器芯片的测试座(socket 常见的电源芯片测试座有BGA25/BGA77/BGA144等多种类型，根据芯片的规格和间距选择合适的测试座是非常重要的。2、测试座的导电性能也需要被关注。
27410编辑于 2024-05-22 - 来自专栏集成电路IC测试座案例合计
芯片封测：BGA芯片封装？BGA芯片测试？BGA芯片测试座
50%，适配高功率芯片（如 CPU、电源管理芯片）；可靠性提升：锡球具备一定弹性，可吸收 PCB 热膨胀产生的应力，减少焊点开裂风险，长期工作可靠性（MTBF）较传统封装提升 2-3 倍。 锡球间距封装尺寸（长 × 宽）核心特点典型应用BGA25251.0mm5mm×5mm超小型，低引脚密度可穿戴设备电源管理芯片BGA49490.8mm6mm×6mm平衡尺寸与集成度物联网传感器芯片BGA77770.8mm8mm 对应焊盘，测试需专用探针座高端 CPU（如 Intel 酷睿）、FPGA五、BGA 封装芯片测试项、方法与标准BGA 芯片测试需覆盖 “电气连接可靠性、长期工作稳定性、封装结构完整性” 三大维度，核心测试体系如下 单颗芯片更换时间≤10 秒，降低测试人员操作强度。 鸿怡电子正研发 “3D BGA 测试座”（支持堆叠芯片的多层面测试）与 “智能校准测试座”（集成温度传感器与阻抗补偿模块），实时修正测试偏差，为下一代超密间距 BGA 芯片的量产测试提供技术支撑。
1.7K10编辑于 2025-10-15 - 来自专栏芯智讯
传音首款自研芯片曝光！为何是电源管理芯片？
据介绍，Infinix 花了两年时间研究全球消费者洞察，以开发首款自研的电源管理芯片 Cheetah X1。 为何手机厂商纷纷自研电源管理芯片？ 在传音自研电源管理芯片之前，华为、OPPO、小米、荣耀等多家的国产手机厂商都有推出自研电源管理芯片。 华为很早就有在其手机当中采用自研的电源管理芯片。 2022年7月，小米正式发布了搭载其首款自研电源管理芯片澎湃G1的小米12S Ultra。 2023年2月，OPPO旗下的一加正式发布了首发搭载其自研的全链路电源管理芯片的智能手机一加Ace 2。 据介绍，SUPERVOOC S芯片是当时行业最强的电源管理芯片，首次实现了充放电的全链路管理。 所以不少智能手机厂商也纷纷自研各类电源管理芯片来优化整个手机系统的电源利用效率，从而减少功耗，以提升手机的续航能力，也成为了一个趋势。
30910编辑于 2024-03-18 - 来自专栏云深之无迹
PSRR（电源抑制比）和电源芯片最终的输出噪音有什么关系？
用公式定义： 所以在频域中，电源噪声通过一个频率相关的衰减函数（由 PSRR 决定）传递到输出。 精密建模：电源噪声通过 PSRR 滤波器后的输出噪声 定义符号 ：输入噪声的功率谱密度（单位 V²/Hz）； ：单位 dB； ：电源噪声转移函数（幅度）； ：输出端的功率谱密度； 总输出噪声均方值为： 通过合理建模 和 ，就能定量计算系统中电源引入的噪声。 RMS 电压约 949 μV 即电源噪声经 PSRR 抑制后，仍然在输出端造成近 1 mV 的扰动（若无后续滤波） 电源抑制比（PSRR）决定了电源噪声对系统输出的影响强弱；高频 PSRR 下降意味着 在高精度模拟或 ADC 前端系统中，要用： LDO 替代开关电源 LC 滤波（尤其对 MHz 级噪声） 选高 PSRR、低噪声电源芯片 那我们来加个滤波电容看看怎么样？
69910编辑于 2025-06-24 芯片电源附近0.1μF的电容的作用？
所谓去耦，就是将芯片工作时产生的高频噪声从电源线上“隔离”出去，防止这些噪声干扰到其他电路或者影响电源的稳定性。当芯片内部的晶体管进行高速开关时，会在极短的时间内产生很大的瞬态电流。 后来将去耦电容移到紧贴芯片的位置，问题就解决了。4.3 电源完整性测试在实际项目中，我们可以通过示波器来测试电源的质量。将示波器探头的地线尽量短（最好使用弹簧地线），测量芯片电源引脚的电压波形。 // STM32 GPIO高速翻转测试代码// 用于产生瞬态电流，观察电源波动void GPIO_HighSpeed_Toggle_Test(void){ GPIO_InitTypeDef GPIO_InitStruct 它就像芯片的“贴身保镖”，时刻准备着为芯片提供瞬态电流，滤除电源噪声，保证芯片稳定可靠地工作。 ，优先选择 X7R 或 X5R 介质通过示波器测试验证电源质量作为一名嵌入式工程师，理解这些基础但关键的设计要点，能够帮助我们设计出更加稳定可靠的硬件电路，减少后期调试的麻烦。
38710编辑于 2026-01-16- 来自专栏集成电路IC测试座案例合计
DC电源防护芯片—封装与测试：保护你的电子设备安全稳定的运行
DC电源防护芯片会检测电源输出是否发生短路，并在发生短路时及时切断电源，以避免短路对设备造成损坏。如何进行DC电源防护芯片的测试DC电源防护芯片起着至关重要的作用。 根据鸿怡电子电源芯片测试座工工程师介绍：通过对电流、电压、温度等指标的全面测试，我们能够评估芯片的性能和可靠性，并根据测试结果进行相应的优化和改进。 通过观察芯片的温升曲线和稳定温度，我们可以评估芯片的散热性能和温度保护功能，并根据测试结果进行相应的优化。4、还应进行耐压测试、抗干扰测试等一系列的测试项目，以全面评估DC电源防护芯片的性能和可靠性。 DC电源防护芯片—封装与测试 DC电源防护芯片：设计、封装与测试全解析在当今快节奏的电子产品开发过程中，DC电源防护芯片逐渐成为确保设备可靠性和耐用性的重要一环。 功能性测试在设计完成后，通过功能性测试验证芯片性能，确保其能够有效应对各种电源异常。功能性测试包括模拟多种电源异常情况，检验芯片的响应和保护性能。 第二部分：封装工艺探讨 1.
46110编辑于 2024-05-27 - 来自专栏集成电路IC测试座案例合计
芯片为什么要测试？如何测试芯片的好坏？芯片测试座该怎么选？
芯片作为电子设备的核心部件，其质量的优劣直接关系到整个电子系统的性能与稳定性。而芯片的测试过程就是确保其性能可靠、功能正常的关键步骤。那么，芯片为什么要进行测试？芯片测试的原理是什么？ 又如何检测不同封装形式的芯片质量？在这些过程中如何选配合适的芯片测试座（socket）？芯片为什么要进行测试？芯片测试的必要性不仅源于其复杂的制造工艺，还关乎产品的质量管控和市场竞争力。 合格的芯片产品在市场上有助于提升品牌信誉，从而巩固市场地位。 芯片测试的原理是什么？芯片测试主要分为两个阶段：功能测试和性能测试。 针对这些各种形式芯片的不同测试需求，须选用相应的测试设备和技术，以满足特定封装形式的测试要求。怎么选配芯片测试座Socket？芯片测试座的选择，不仅影响测试的效率，还决定了测试结果的准确性和可靠性。 供电与接地：测试座需提供稳固的供电和接地，尤其对于处理器类芯片的测试来说，供电稳定直接影响最终测试结果。芯片测试是芯片生产环节中不可或缺的一步，多样化的测试方法和设备保障了芯片性能的稳定和可靠。
1K10编辑于 2024-12-26 半导体芯片测试：谷易芯片测试座是如何保证芯片测试的良率？
一、芯片测试的核心类型与环境挑战芯片测试贯穿制造全流程，其精度直接决定良率高低，而芯片测试座作为芯片与测试设备的唯一接口，是适配各类测试场景的关键载体。 半导体芯片测试：谷易电子芯片测试座是如何保证芯片测试的良率？ （二）极端测试环境的核心诉求不同应用场景对测试环境提出差异化要求：车规芯片需通过-65℃~150℃温度循环测试，5G芯片需保障35GHz高频信号完整性，工业芯片需耐受-40℃~125℃宽温域与振动环境。 测试座需同时满足信号传输精准性、环境耐受性与机械稳定性，才能避免测试误差导致的良率损耗。半导体芯片测试：谷易电子芯片测试座是如何保证芯片测试的良率？ 适配产业升级需求：从消费电子低功耗测试到车规高频测试，谷易测试座的模块化与定制化能力，可响应不同芯片品类的测试需求，为封测厂提供“精度-效率-成本”平衡的良率优化方案。
45310编辑于 2025-11-10- 来自专栏云深之无迹
一颗=3颗（nPM1300电源芯片）
nPM1300是NRF最新的电源IC，文章比较长，请耐心观看： 对比以前的芯片来看，这次是补全了前面芯片的空缺，而且DCDC+LDO+充电这样的设置可以让嵌入式设备的体积再变小一些： 就像一个项目的电源系统 ，里面有数字的MCU，也有模拟的AEF，以及为了便携的充电芯片，现在一颗芯片就可以全搞定了，而且还多了很多高级功能，比如可调的LDO和BUCK，以及高端产品才能拥有的运输模式。 可以通过外置电阻的设置，在芯片没有被主机控制的情况下就可以供电。最后我觉得是官方给的BUCK做LDO给MCU供电还挺好，剩下的两个LDO做模拟和数字电源。 其实还有一路主机供电的电源，也可以作为扩展电源出现。 芯片操作其实简单的，就是IIC： TWI 由 VDDIO 供电。建议将VDDIO连接到 BUCK 输出、VOUT1或VOUT2。除运输和休眠模式外，芯片的所有操作模式下都必须有 VDDIO。
54410编辑于 2024-08-21 - 来自专栏集成电路IC测试座案例合计
什么是芯片老化测试？芯片老化测试时长与标准，芯片老化测试座的作用
本文将深入解析芯片老化测试的定义、测试标准、测试时间，以及芯片老化测试座的作用，帮助您全面了解这一过程的每个细节。芯片老化测试是什么？ 芯片老化测试的标准芯片老化测试通常遵循行业标准，这些标准为测试提供了统一的执行规范和结果评估方法。常用的芯片老化测试标准包括：1. 芯片老化测试座的关键功能1. 连接性：芯片老化测试座提供可靠的电气连接，确保芯片与测试设备间信号和电源传输的稳定性。2. 芯片老化测试座的选择选择合适的芯片老化测试座时，需要考虑以下几点：封装类型：确保芯片老化测试座兼容要测试的芯片封装类型。热性能：查看芯片老化测试座的热导率，以保障芯片在测试过程中不会因过热而受到损害。 机械稳定性：芯片老化测试座应该能够提供稳定的支持，以防止测试过程中出现误差。芯片老化测试是确保芯片质量和可靠性能的关键步骤。
93910编辑于 2025-02-13 - 来自专栏猿计划
全智V5+AXP233电源管理芯片调试
具体修改方案 linux-4.4内核的power相关的驱动位置：linux-4.4\drivers\power power目录下有个axp目录，可见axpXXX系列的电源驱动都放在了这个目录下面， 打开之后 目前为止axp22x中实现了axp221s、axp227、axp223三个电源管理芯片的驱动。是一个大合集。 我主要添加的代码： /********************************************************* * 20230920 zh add * 控制AXP233电源管理芯片
53810编辑于 2023-10-19 - 来自专栏AIoT技术交流、分享
国产芯片WiFi物联网智能插座—电源功能设计
明确电源功能后，需要对电源模块选型，我的选型总体标准是：质量高、价格低、体积小，要具备电压隔离且EMC过关，功耗不用要求严格。 1、AC 220V转DC 5V电源设计 AC 220V转DC 5V电源选用金升阳的LD03-23B05R2模块，该电源模块可输出电压/电流：5V/600mA（驱动MCU、继电器以及其他外设最大消耗电流200mA ，驱动WiFi芯片最大消耗电流350mA）具有低功耗、高效率、高可靠性、安全隔离等优点。 AC 220V转DC 5V电源电路设计如下所示： 2、DC 5V转DC 3.3V电源设计 DC 5V转DC 3.3V电源选用UTC(友顺)的LR1107G-33-AE3-3-R模块，该电源模块可输出电压 产品特点如下所示： DC 5V转DC 3.3V电源电路设计如下所示： 3、DC 5V转DC 5V电源设计 DC 5V转DC 5V电源主要是为了将交流地和直流地隔离，减少电源干扰，保护系统的安全。
1K10发布于 2021-01-23
腾讯云开发者
Copyright © 2013 - 2026 Tencent Cloud. All Rights Reserved. 腾讯云 版权所有
深圳市腾讯计算机系统有限公司 ICP备案/许可证号：粤B2-20090059 
粤公网安备44030502008569号
腾讯云计算（北京）有限责任公司 京ICP证150476号 | 京ICP备11018762号