金锡烧结为什么会有密封空洞?从气体排出到界面润湿说清楚
金锡熔封、金锡封盖或叫金锡密封里常见的一个问题就是密封空洞。很多现场一看到空洞,就会先怀疑温度不够、保温时间不够,或者峰值温度设置不合理。
图1 金锡封盖示意图
但空洞通常不是单一温度问题。它往往是材料、气氛、表面状态、镀层质量、压力和升温曲线共同作用的结果。尤其在气密封装、光器件、功率器件和高可靠封装中,空洞不仅影响外观或导热,还可能直接影响密封性和长期可靠性。
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AuSn 共晶/烧结过程中到底发生了什么?
AuSn常见共晶成分接近Au80Sn20,共晶温度约280℃。实际工艺中,AuSn 焊料在加热过程中会软化、熔融或发生界面反应,并尝试润湿上下界面。
一个稳定的 AuSn 接合过程,至少要满足两个条件:
第一,界面能被充分润湿。也就是说,焊料能够铺展并与金属镀层形成连续结合,而不是局部缩球、局部悬空或局部未反应。
第二,挥发物和夹带气体能够及时排出。焊料、镀层、基底表面、夹具、环境气氛中残留的水汽、有机物、氧化物或污染物,在升温过程中可能释放气体。如果这些气体在焊料铺展和固化前没有排出去,就可能形成空洞。
所以,密封空洞本质上不是“温度高低”单独决定的,而是润湿、排气和界面反应之间的时间窗口是否匹配。
关键因素一:表面清洁
表面清洁度是影响 AuSn 润湿的第一类因素。
如果盖板、基座、芯片、陶瓷、金属环或镀层表面存在氧化、颗粒、油污、有机残留、水汽吸附,就会阻碍焊料铺展。局部润湿不良的位置,容易形成封闭空腔或连通孔洞。
常见来源包括:
- 前道清洗不充分
- 存储时间过长
- 暴露环境湿度偏高
- 手工取放或夹具带入污染
- 镀层表面氧化或有机残留
现场排查时,不要只看焊料本身,也要同步检查待焊表面、夹具接触区域和存储条件。
关键因素二:镀层质量
AuSn 对界面金属层比较敏感。镀层厚度、粗糙度、致密性、氧化状态和扩散阻挡层都会影响润湿和界面反应。
例如,金层过薄、镍层氧化、镀层孔隙、局部污染或粗糙度异常,都可能导致焊料在局部区域无法连续铺展。
镀层异常常见表现包括:
- 局部未润湿
- 焊料边界不连续
- 剪切后界面残留不均
- 截面中出现界面孔洞
- 气密测试结果波动
这类问题如果只靠提高温度或延长时间,可能短期有所改善,但也可能引入过度反应、脆性金属间化合物增加或镀层消耗过快的问题。
关键因素三:升温曲线
升温曲线决定气体什么时候释放、焊料什么时候开始润湿、界面什么时候被封住。
如果升温太快,水汽和有机物还没充分排出,焊料已经开始铺展并封闭气体通道,空洞就容易被困在界面内部。
如果保温段设计不合理,低温排气不足,高温段又过快进入共晶反应,也会增加密封空洞风险。
更合理的思路是让挥发物先有时间排出,再进入稳定润湿和共晶反应阶段。具体曲线要根据焊料形态、封装结构、腔体体积、气氛和设备能力验证,而不是简单照搬标准曲线。
关键因素四:压力
压力可以改善接触状态,帮助焊料铺展,也能减少局部间隙。但压力不是越大越好。
压力不足时,焊料与界面接触不充分,局部区域可能无法润湿。压力过大时,焊料可能被挤出密封环,造成焊料不足、边缘不连续或厚度不均。对于一些薄盖板、陶瓷基座或 MEMS/光器件结构,过高压力还可能带来变形和应力风险。
排查时要看压力实际传递是否均匀,而不是只看设备设定值。夹具平整度、产品共面性、密封环高度差都会影响真实接触状态。
关键因素五:气氛
AuSn 工艺常见气氛包括氮气、成形气、真空或局部还原气氛。气氛的作用不只是防氧化,还会影响挥发物排出和界面活化。
如果气氛含氧或含水偏高,界面氧化会加重,润湿性变差。如果抽真空或气体置换不充分,残留气体也可能被困在密封区域内。
图2 金锡焊料在不同氧含量下的铺展形貌
图3 随着焊料中氧含量增加,金锡焊料在铜板上铺展面积的变化
需要重点关注:
- 氧含量和露点
- 真空度与抽气时间
- 气体置换效率
- 炉腔洁净度
- 夹具和载具放气情况
对于气密封装,气氛控制和排气路径设计往往和温度曲线一样重要。
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常见失效
密封性不足
表现为气密测试不稳定或泄漏率超标。可能来自焊料环不连续、空洞连通、局部未润湿或界面裂纹。
局部未润湿
常见于表面污染、镀层异常、氧化、压力不足或温度曲线不匹配。显微观察中可能看到焊料缩聚、边界不连续或局部空白区域。
孔洞连通
如果空洞彼此连接,或者连接到密封环边缘,就会直接破坏气密性。单个孤立小孔洞未必一定导致泄漏,但连通孔洞风险更高。
图4 盖板密封空洞及拒收判据
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判断方法
第一,看 X-ray。X-ray 可以快速判断空洞数量、面积、位置和是否集中在某一区域。但 X-ray 不能完全判断界面是否真正润湿,也不能区分所有污染来源。
第二,看截面。截面能确认空洞位置是在焊料内部、界面处,还是镀层附近,也能观察润湿边界和界面反应层。
图5 磨抛观看焊接界面情况
第三,做气密测试。对于密封类产品,最终还是要看细检漏、粗检漏或氦检漏结果。空洞面积不一定和泄漏率线性对应,连通路径才是关键。
第四,做界面分析。必要时用 SEM/EDS、XPS、Auger 或离子污染分析确认氧化、污染、镀层元素异常和界面反应情况。
总结
金锡烧结出现密封空洞,不要只把问题归结为温度不够。AuSn 接合质量取决于表面清洁、镀层质量、升温曲线、压力和气氛的共同匹配。
如果挥发物没有及时排出,或者界面没有充分润湿,就容易形成空洞、局部未润湿和孔洞连通,最终影响密封性和可靠性。
排查时建议从 X-ray 看空洞分布,用截面确认位置,用气密测试判断功能影响,再结合界面分析追溯污染、氧化或镀层问题。
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