智能测试是做什么的，它是如何工作的？

Question

man smartctl状态(为了简洁起见被剪短)：

第一类叫做“在线”测试。第二类测试称为“脱机”测试。正常情况下，磁盘将在进行磁盘访问时挂起脱机测试，然后当磁盘处于空闲状态时自动恢复测试。第三类测试(也是“测试”这个词真正适合选择的唯一类别)是“自我”测试。启用或禁用智能自动脱机测试，该测试每四小时扫描一次驱动器以查找磁盘缺陷。此命令可以在正常的系统操作期间给出。

谁运行测试驱动器固件？这些是什么类型的测试-固件读写磁盘-到底发生了什么？在操作系统(linux)中调用测试是安全的，还是当您在BIOS提示符(“脱机测试”)重新启动操作系统时，可以安排稍后的测试(这是如何发生的)？结果显示在哪里-智能日志？

Answer 1

智能实现依赖于制造商，有时可以通过smart -a命令获得相当广泛的日志。下面是我在日立的一个自加密驱动器上得到的信息：

SMART Error Log Version: 1
ATA Error Count: 3

Error 3 occurred at disk power-on lifetime: 2543 hours (105 days + 23 hours)
When the command that caused the error occurred, the device was active or idle.

After command completion occurred, registers were:
ER ST SC SN CL CH DH
-- -- -- -- -- -- --
10 51 08 00 08 00 00  Error: IDNF at LBA = 0x00000800 = 2048

Commands leading to the command that caused the error were:
CR FR SC SN CL CH DH DC   Powered_Up_Time  Command/Feature_Name
-- -- -- -- -- -- -- --  ----------------  --------------------
60 08 68 00 08 00 40 00      00:00:06.139  READ FPDMA QUEUED
27 00 00 00 00 00 e0 00      00:00:06.126  READ NATIVE MAX ADDRESS EXT
ec 00 00 00 00 00 a0 00      00:00:06.125  IDENTIFY DEVICE
ef 03 46 00 00 00 a0 00      00:00:06.125  SET FEATURES [Set transfer mode]
27 00 00 00 00 00 e0 00      00:00:06.125  READ NATIVE MAX ADDRESS EXT
...

这份白皮书揭示了日志中出现的错误代码。常见错误缩写如下：

• 地址标记未找到
• TONF -轨道0未找到
• ABRT -命令中止
• IDNF -扇区ID未找到
• UNC -不可更正的数据
• BBK -坏块标记

在我的例子中，IDNF错误(ID未找到)可以追溯到通过USB到SATA适配器插入驱动器时发生的事件，并且碰巧电源不足，这使得它无法正确地查找。