我的SSD现在有226个坏部门。这很重要吗？

Question

Ubuntu 13.04在我的SSD中，坏部门的数量一直在稳步增加，直到今天的226个坏部门。

问题是，我不知道226个坏部门是0.0001%的社会可持续发展，1%的社会可持续发展，还是99%的可持续发展。

今天早上我在网上找不到任何东西来回答这个问题。

磁盘实用程序也不告诉我，我也找不到智能数据中的信息。

sudo smartctl -a /dev/sda显示了这一点：

smartctl 5.43 2012-06-30 r3573 [x86_64-linux-3.8.0-31-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-12 by Bruce Allen, http://smartmontools.sourceforge.net

=== START OF INFORMATION SECTION ===
Device Model:     Samsung SSD 840 PRO Series
Serial Number:    S1ATNEAD645474H
LU WWN Device Id: 5 002538 5503c15c0
Firmware Version: DXM05B0Q
User Capacity:    256,060,514,304 bytes [256 GB]
Sector Size:      512 bytes logical/physical
Device is:        Not in smartctl database [for details use: -P showall]
ATA Version is:   8
ATA Standard is:  ATA-8-ACS revision 4c
Local Time is:    Fri Jan 24 20:37:08 2014 CST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled

=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

General SMART Values:
Offline data collection status:  (0x00) Offline data collection activity
                                        was never started.
                                        Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status:      (   0) The previous self-test routine completed
                                        without error or no self-test has ever
                                        been run.
Total time to complete Offline
data collection:                (53956) seconds.
Offline data collection
capabilities:                    (0x53) SMART execute Offline immediate.
                                        Auto Offline data collection on/off support.
                                        Suspend Offline collection upon new
                                        command.
                                        No Offline surface scan supported.
                                        Self-test supported.
                                        No Conveyance Self-test supported.
                                        Selective Self-test supported.
SMART capabilities:            (0x0003) Saves SMART data before entering
                                        power-saving mode.
                                        Supports SMART auto save timer.
Error logging capability:        (0x01) Error logging supported.
                                        General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time:        (   2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time:        (  20) minutes.
SCT capabilities:              (0x003d) SCT Status supported.
                                        SCT Error Recovery Control supported.
                                        SCT Feature Control supported.
                                        SCT Data Table supported.

SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
  5 Reallocated_Sector_Ct   0x0033   097   097   010    Pre-fail  Always       -       238
  9 Power_On_Hours          0x0032   099   099   000    Old_age   Always       -       1331
 12 Power_Cycle_Count       0x0032   099   099   000    Old_age   Always       -       341
177 Wear_Leveling_Count     0x0013   097   097   000    Pre-fail  Always       -       75
179 Used_Rsvd_Blk_Cnt_Tot   0x0013   097   097   010    Pre-fail  Always       -       238
181 Program_Fail_Cnt_Total  0x0032   097   097   010    Old_age   Always       -       238
182 Erase_Fail_Count_Total  0x0032   100   100   010    Old_age   Always       -       0
183 Runtime_Bad_Block       0x0013   097   097   010    Pre-fail  Always       -       238
187 Reported_Uncorrect      0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       0
190 Airflow_Temperature_Cel 0x0032   067   062   000    Old_age   Always       -       33
195 Hardware_ECC_Recovered  0x001a   200   200   000    Old_age   Always       -       0
199 UDMA_CRC_Error_Count    0x003e   099   099   000    Old_age   Always       -       1
235 Unknown_Attribute       0x0012   099   099   000    Old_age   Always       -       128
241 Total_LBAs_Written      0x0032   099   099   000    Old_age   Always       -       33308592070

SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged

SMART Self-test log structure revision number 1
No self-tests have been logged.  [To run self-tests, use: smartctl -t]


SMART Selective self-test log data structure revision number 1
 SPAN  MIN_LBA  MAX_LBA  CURRENT_TEST_STATUS
    1        0        0  Not_testing
    2        0        0  Not_testing
    3        0        0  Not_testing
    4        0        0  Not_testing
    5        0        0  Not_testing
  255        0    65535  Read_scanning was never started
Selective self-test flags (0x0):
  After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.

Answer 1

2014年晚些时候，三星840 Pro SSD发生了灾难性的故障。它在保修期内被三星850 Pro取代，该产品自那以后一直在成功运行，至今仍未报告任何不良行业。我对此感到高兴，因为我认为这可能是SSD的“无文档特性”。

Answer 2

我们的SSD的智能数据显示，您使用SSD长达1331小时，而SSD已经遭受了33308592070*512/1024^4=15,5 TiB写到。这意味着大约12 GiB在你的SSD上每小时写一次电。对于一个典型的消费SSD使用来说，这是相当多的事情。你用SSD做什么？

您仍然远远低于SSD的写入周期限制，这是一个基于MLC的SSD，因此应该容忍大约3000次写入周期，这意味着ca. 256GB*3000=768 TB编写。所以我会说你很安全。

但您的智能数据显示，您现在已经有238个重新分配(失败)部门。与驱动器上的数亿个扇区相比，这个数字仍然很低，但对我来说，只有60-70个写周期之后，你的SSD就有失败的块，这让我感到惊讶。你的SSD有空余空间吗？SSD需要一些空闲空间才能有效地管理驱动器上的磨损。如果驱动器几乎是满的，它的磨损更快，因为增加写磨损平衡算法。

这里是一个在写测试下显示840 PRO 256 GB SSD的图形。在写完300 TB后，它仍然是零，或非常接近于零再分配扇区。在不到20次肺结核之后，你就有200多个了。

您正在使用该驱动器的最新固件。我不想让你担心，但我认为你应该联系三星的智能输出，并询问他们的意见。我觉得你的硬盘有点问题。

更新：

三星的回应--基本上说一切都很好--我会说，只要你不遇到数据丢失，(也就是只要在写操作中发现了坏块)，我认为你就不用担心了。

您可以在Runtime_bad_block行(238，原始值)中看到坏块计数，它是Program_Fail_Cnt_Total (238，这是失败的写入操作)、Erase_Fail_Count_Total (0，失败的擦除操作)和失败的读取操作的总和。因此，在生成智能输出时，驱动器上的失败读取操作为238-238-0=0，因此您没有任何失败的读取，也没有任何数据丢失。

如果您的驱动器在不久的将来也会遇到失败读取(这意味着Runtime_bad_block将不等于Program_Fail_Cnt_Total + Erase_Fail_Count_Total)，潜在的数据丢失，我会再次联系三星。在那之前好好享受你的SSD吧。