arm Cortex_A8的开发

Question

我想在ARM处理器上对我的应用程序进行分析。我发现侧写文件不管用。几年前有人使用下面的代码进行测试。循环计数器工作，性能监视器计数器仍然不工作。我又测试了一遍，它是一样的。对于下面的代码，我得到循环计数: 2109，性能监视器计数: 0。我已经搜索了谷歌，到目前为止，我还没有找到解决方案。有人解决了这个问题吗？

    uint32_t value = 0
    uint32_t count = 0;
    struct timeval tv;
    struct timezone tz;

    // enable all counters
    __asm__ __volatile__ ("mcr p15, 0, %0, c9, c12, 1" ::"r" (0x8000000f));

    // select counter 0,
    __asm__ __volatile__("mcr p15, 0, %0, c9, c12, 5" ::"r" (0x0));
    // select event
    __asm__ __volatile__ ("mcr p15, 0, %0, c9, c13, 1" ::"r"(0x57));

    // reset all counters to ero and enable all counters
    __asm__ __volatile__ ("mrc p15, 0, %0, c9, c12, 0" : "=r" (value));
    value |= 0xF;
    __asm__ __volatile__ ("mcr p15, 0, %0, c9, c12, 0" :: "r" (value));

    gettimeofday(&tv, &tz);

    __asm__ __volatile__("mrc p15, 0, %0, c9, c13, 0" : "=r" (count));
    printf("cycle count: %d", count);

    __asm__ __volatile__ ("mrc P15, 0, %0, c9, c13, 2": "=r" (count));
    printf("performance monitor count: %d", count);

Answer 1

我只是遇到了同样的问题，在我的例子中，这是由于NIDENm信号被拉低。

来自ARM的文件：

PMU只在启用非侵入性调试时(即当断言DBGENm或NIDENm输入时)计数事件。除非设置了PMCR寄存器的DP位，否则无论是否启用非侵入式调试，始终启用循环计数(PMCCNTR)寄存器。

NIDENm信号是ARM核的输入，因此它的精确控制将取决于处理器的核心外部部分。在我的案子里，我找到了一个控制尼登的登记簿。在您的情况下，它可能是一个寄存器，或一个引脚，或(可能)信号只是拉低，你不能使用该功能。

还来自ARM文件：

DBGENm和NIDENm信号的值可以通过轮询DBGDSCR[17:16]、DBGDSCR[15:14]或DBGAUTHSTATUS来确定。

因此，如果您能够阅读其中之一，您可以确认问题是NIDENm。