理论上，如何在STM32F3中实现最大采样率？

Question

我目前在一个需要尽可能高采样率的项目中使用STM32F303VET6。我决定将模拟信号连接到PC0，即ADC12_IN6，这是一个普通的慢通道，根据参考手册的说法，它内部连接到ADC1 1&2，然后交叉采样信道。

数据表指定慢信道的采样频率可以是4.8MSPs，在第137页中。这可能是最大抽样率。

然而，数据表还在第135页中说，对于慢通道，慢通道的最小采样周期是4.5个周期，因为1.5和2.5周期的R_AIN值是指定的NA。然后，最小转换时间为4.5 + 0.5 + 12次，相应地，4.2MSPs比指定的4.8MSPs慢。

当然，我可以降低采样时间，但这样就无法保证ADC的准确性。我的问题是：

1. 是否有任何官方文件表明，理论上可以获得4.8个慢速频道上的MSPS？(例如，在这种情况下，最大R_AIN是多少？)
2. 若然，互联网上是否有任何例子？

(相关但不类似：交错模式的STM32F3双模数转换器)

Answer 1

是的，它的分辨率低于12位(即10、8、6)，并记录在同一页上:)

我已经用1.5个时钟(5.1MSPS)测试了它，如果输入信号来自事件OP-AMP (非常低的输出阻抗和巨大的旋转速率)，它是工作良好的-打赌没有从STM保证它将工作。

我在对董事会的第二次审查中纠正了这个错误(我错误地选择了错误的引脚)。