我们知道最终所有的东西都是晶体管,有状态0和1。
而且晶体管有时可能会损坏。
我们可以测试内存中是否有任何缺陷晶体管吗?
我认为对于硬件或其他任何东西都是类似的。
发布于 2011-05-26 23:24:42
你不能从一个过程中做出一个明确的决定,一个存储单元是坏的还是不坏的。这通常是通过将已知值写入内存地址并在读回时检查它们是否相同来实现的。像memtest86这样的工具就是按照这个原则工作的。
https://stackoverflow.com/questions/6141012
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