应用案例：PCIE-1840用于电气开关拉弧保护性能检测

拉弧是指当电压超过空气的耐受力使空气电离变成导体也就是产生电弧，电弧会绕过绝缘体沿着绝缘体的表面产生 因而会对绝缘体产生损坏，电弧的高温会使绝缘体融化或碎裂。

为避免这种危害，电气开关需要具有电弧吸收保护功能，该功能也是开关产品品质的一个重要参数，某电气开关专业生产厂商为此专门设计一套基于工业电脑的开放式测试系统，对此参数进行严格测试。

该测试系统进行对于低压断路器的开端测试和拉弧测试，PCI-1730进行开关的测试，测试为方波信号，而PCIE-1840进行电弧测试，因电弧的速度很高，需要进行高速的采集，采集的结果放入到软件中进行检测；

系统硬件

1. PCIE-1840 16位125M同步采集卡;
2. PCI-1730 32ch 隔离数字IO卡
3. IPC-610 工业电脑i7/500GB SSD/8G内存

系统软件

该系统使用Labview进行开发。

使用Labview开发高速采集系统需要考虑较多的因素，例如高速采集与实时显示如何合理分配资源，如何根据存储速度和带宽设置数据格式，同步存储或异步存储设定，巨量数据的曲线回放与缩放，TDMS存储格式等。研华专门为高速采集开发了例程，客户在此基础上仅需做少量的修改，即可完成高速采集与存储回放。

该系统是基于工业电脑的开放式测试系统，PCIE-1840采用PCIE*4总线，具有2G的传输带宽。配备大容量电子盘可以突破传统方案受限于卡上存储空间太小只能短时存储的限制，可以将原始数据直接存储到大容量电子盘上以利于后续分析，开放接口也利于后续增加多种产品测试分析模式和增加多种分析算法，对于提高产品竞争力具有重大意义！